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人工晶狀體半成品測量儀有什么優(yōu)勢？

更新時(shí)間：2019-05-20      點(diǎn)擊次數(shù)：1926
1.測量散光，軸線及殘余散光。

2.數(shù)值化和圖形化整個(gè)表面的曲率分布。

3.測量鏡片表面任何區(qū)域的曲率半徑。

4.干涉條紋可以體現(xiàn)整個(gè)表面的光學(xué)特征。

5.對刀分析功能能夠提供加工過程中刀具的各種珍貴信息，如刀具精度，是否對準(zhǔn)，是否磨損等。

6.不需要特殊的防震平臺(tái)。

7.可測量樣品的整個(gè)表面區(qū)域，包括環(huán)形區(qū)域。

8.可以輕易分辨細(xì)微的表面缺陷，即便是某些其他設(shè)備不可見的細(xì)節(jié)。

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